Espectrómetro analizador portátil-XRF H500

Simplemente el mejor

Ø Su analizador de elementos portátiles que va a cualquier parte

Ø Análisis de elementos no destructivos con informes rápidos y sencillos y generación de certificados

Ø Diseño industrial robusto para casi cualquier condición climática, entorno de campo

Ø En tiempo real y preciso

Ø Amplias industrias de aplicaciones

Antecedentes e introducción

La espectroscopia de fluorescencia de rayos X dispersa de energía (EDXRF) tiene varias ventajas sobre otros métodos que miden la concentración elemental. Esta tecnología puede medir numerosas formas de muestra y puede satisfacer diferentes requisitos de medición. Además, la espectroscopia EDXRF puede detectar una amplia gama de elementos, incluso varios elementos simultáneamente. Esta técnica no es destructiva, rápida, altamente precisa y respetuosa con el medio ambiente. La espectroscopia EDXRF se puede utilizar en diferentes tipos de muestras, como a granel, líquido, polvo y gas

Funciones:

Análisis no destructivo

Rugoso. Revolucionario. Productivo.Fácil manejo

Durabilidad excepcional en condiciones extremas rápido retorno de la inversión

El software fácil de usar permite la configuración del experimento en cuestión de minutos

La medición da como resultado la calidad del laboratorio

Especificaciones técnicas

Método analítico	Fluorescencia de rayos X dispersa de energía
PDA con pantalla táctil	CPU: 1G, Memoria del sistema: 1G, datos estándar de almacenamiento masivo 4G, soporte máximo almacenado extendido hasta 32G, pantalla táctil LCD grande, resolución 1820x720
Análisis inteligente	Modo de prueba de selección automática basado en matriz de muestras
Fuente de excitación	50KV/200μA – Tubo de rayos X en miniatura integrado de la ventana final Ag/Rh y fuente de alimentación de alta tensión
Colimador & Filtro	Colimador múltiple y filtros con funciones de conmutación automática
Detector	Detector de deriva de silicio (SDD)
Resolución de detectores	Hasta 125eV
Estados de muestra	Sólidos, líquidos, polvos
Rango elemental	Números atómicos entre 12 (Mg) y 92 (U)
Límite de detección	1 – 500ppm, dependiendo de la matriz de elementos y muestras
Tiempo de análisis	3-60 segundos
Análisis simultáneo	Muestra hasta 40 elementos a la vez
Rango de visualización	ppm – 99,99%
Sistema de vista de muestras	Cámara integrada de alta resolución
Conectividad	USB, GPS, Wi-Fi o Bluetooth
Seguridad	Apagado automático del tubo de rayos X, marco de instrumento forrado por Pb, niveles de radiación dentro de los estándares internacionales de seguridad
Fuente de alimentación	La batería recargable Li, estándar de 9000mAh, proporciona hasta 12 horas de funcionamiento con una sola carga; Adaptador universal de 110/220V para cargar
Temperatura	-20ºC a +50ºC
Humedad	≤90%
Peso	1,75 kg

Analizadores XRF en Field:Applications:

Análisis, identificación y pruebas de aleación de metales

Identificación positiva de material (PMI)

Análisis de metales preciosos y joyas

Fabricación de metales; Garantía de calidad & Control

Minería/Geología

Juguetes/Bienes de Consumo

La Ley de Mejora de la Seguridad de los Productos de Consumo (CPSIA, por sus sus hijos) de 2008 fue promulgada para combatir las alarmantes cantidades de plomo que se encuentran en los juguetes infantiles. Ahora los bienes de consumo como juguetes, ropa, joyas, cosméticos y muebles se examinan rutinariamente con analizadores XRF.

Las regulaciones mundiales de restricción de sustancias peligrosas (RoHS) siguen afectando a los fabricantes de productos eléctricos y electrónicos y a sus cadenas de suministro... al igual que las iniciativas sin halógenos. Los analizadores XRF portátiles ayudan a los organismos encargados de hacer cumplir la ley a examinar los productos en busca de mercurio, plomo y otros materiales dañinos.

Análisis/Corrección Ambiental

Suelo

Los sitios industriales y agrícolas pueden contaminarse con plomo, arsénico, cadmio, cromo y otros metales tóxicos. El primer paso correctivo en el tratamiento de estas zonas peligrosas es evaluar con precisión el alcance y la extensión de los contaminantes en el suelo. Los analizadores XRF proporcionan un rendimiento de grado de laboratorio en el campo, lo que permite la delimitación quirúrgica de los límites de contaminación mientras cumplen plenamente con el Método 6200 de la EPA de EE. UU.

Arte y arqueología

Los analizadores XRF pueden recopilar datos elementales cuantitativos de muestras arqueológicas. Estos datos se pueden utilizar para hacer coincidir pigmentos y otros materiales para la restauración, ayudar a identificar cómo se han conservado los objetos en el pasado, cómo conservarlos mejor para el futuro, obtener pistas importantes de la era de los petroglifos, identificar aleaciones y otros materiales, y ayudar a autenticar una variedad de arte y artefactos.

Rendimiento de prueba de muestras minerales de estaño

Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500					Muestra: Mineral de estaño
Tiempo de prueba:	30 segundos	Unidad: %
No. de la lectura	Curva de calibración	Sn	Cu	Fe	Mo
1	Mineral	49.3554	5.7654	56.0551	5.4208
2	Mineral	50.6876	5.6713	55.9913	5.5935
3	Mineral	50.3881	5.7493	56.0739	5.3518
4	Mineral	49.8010	5.7727	56.1811	5.4086
5	Mineral	49.8032	5.6791	55.8322	5.3257
6	Mineral	49.9043	5.7250	56.0807	5.4958
7	Mineral	50.5025	5.6975	55.7652	5.4550
8	Mineral	48.4144	5.7198	55.7945	5.4728
9	Mineral	50.4025	5.7634	56.0962	5.4033
10	Mineral	49.5978	5.7385	56.3685	5.4228
Promedio		49.886	5.728	56.024	5.435
Desviación estándar Sn		0.6738	0.0362	0.1864	0.0757
Rsd		1.351%	0.633%	0.333%	1.393%

Rendimiento de prueba del Acero Inoxidable-316

Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500					Muestra:	Acero inoxidable 316
Tiempo de prueba:	30 segundos
No. de la lectura	Curva de calibración	Cr %	Mn %	Fe %	Ni %	Cu %	Mo %
1	Acero de alta aleación	16.648	0.878	69.346	10.121	0.309	1.987
2	Acero de alta aleación	16.688	0.849	69.356	10.100	0.325	1.983
3	Acero de alta aleación	16.642	0.872	69.435	10.061	0.315	1.991
4	Acero de alta aleación	16.679	0.918	69.276	10.102	0.311	1.975
5	Acero de alta aleación	16.611	0.899	69.266	10.196	0.305	1.984
6	Acero de alta aleación	16.652	0.888	69.422	10.021	0.304	1.996
7	Acero de alta aleación	16.722	0.865	69.305	10.098	0.318	1.975
8	Acero de alta aleación	16.702	0.836	69.438	10.037	0.313	1.988
9	Acero de alta aleación	16.629	0.876	69.382	10.076	0.312	1.963
10	Acero de alta aleación	16.642	0.864	69.388	10.117	0.302	1.974
Gamas		0.111	0.082	0.172	0.175	0.023	0.032
Promedio		16.662	0.874	69.361	10.093	0.311	1.982
Desviación estándar Sn		0.0349	0.0236	0.0633	0.0492	0.0071	0.0096
Rsd		0.209%	2.694%	0.091%	0.488%	2.276%	0.486%

¿Qué es XRF?

La excitación directa es un proceso por el cual los átomos de un espécimen son excitados por fotones primarios de fuentes externas, como un tubo de rayos X, para producir fluorescencia primaria. Un proceso alternativo es la excitación indirecta, en la que la fluorescencia observada se produce como un proceso secundario por fotones o partículas (electrones) procedentes de excitación directa u otros procesos secundarios dentro de la muestra. La radiografía es una radiación electromagnética generada por partículas de alta energía que bombardean átomos. Esta radiación tiene dualidad de partículas de onda. La espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) utiliza fotones primarios de rayos X u otras partículas microscópicas para excitar los átomos del material de ensayo para producir XRF secundario para el análisis de la composición de materiales y la investigación del estado químico

Nuestros productos y servicios ayudan a nuestros clientes a resolver complejos desafíos analíticos, mejorar el diagnóstico del paciente y aumentar la productividad del laboratorio.

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Soporte telefónico y remoto

Mantenimiento preventivo y chequeos

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Certificados de rendimiento

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Apoyo local y global

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Formación in situ o en nuestros centros de competencia

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